供应X荧光镀层测厚仪CMI900

CMI900镀层测厚仪特点：

精度高、稳定性好 
强大的数据统计、处理功能 
测量范围宽 
NIST认证的标准片 
全球服务及支持
 
 
 
技术参数
 
主要规格
 规格描述
 
X射线激发系统
 垂直上照式X射线光学系统
 
空冷式微聚焦型X射线管，Be窗
 
标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等
 
功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准

      75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选
 
装备有安全防射线光闸
 
二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选
 
准直器程控交换系统
 最多可同时装配6种规格的准直器
 
多种规格尺寸准直器任选：

－圆形，如4、6、8、12、20 mil等

－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等

 
 
测量斑点尺寸
 在12.7mm聚焦距离时，最小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器)
 
在12.7mm聚焦距离时，最大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器)
 
样品室
 CMI900
 CMI950
 
－样品室结构
 开槽式样品室
 开闭式样品室
 
－最大样品台尺寸
 610mm x 610mm
 300mm x 300mm
 
－XY轴程控移动范围
 标准：152.4 x 177.8mm

还有5种规格任选
 300mm x 300mm
 
－Z轴程控移动高度
 43.18mm
 XYZ程控时，152.4mm

XY轴手动时，269.2mm
 
－XYZ三轴控制方式
 多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制
 
－样品观察系统
 高分辨彩色CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。
 
激光自动对焦功能
 
可变焦距控制功能和固定焦距控制功能
 
计算机系统配置
 IBM计算机

惠普或爱普生彩色喷墨打印机
 
分析应用软件
 操作系统：Windows2000中文平台

分析软件包：Smar

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